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日本ourstex在線膜厚分析儀OURSTEX 100TA-F 引入利用我們的非破壞性分析技術的在線膜厚分析儀。
日本sasaki koki非接觸式測厚儀OZUMA22 半導體(各種材料)的晶片硅Si.GaAs砷化鎵等,玻璃,金屬,化合物等的高精度非接觸式厚度測量(非接觸式厚度測量)
日本CAPTAIN六角形超聲波測厚儀RWP20.50-UTP-WET 飛機零件的后處理厚度控制是重要的過程。 當前,使用手提型超聲波測厚儀,并且人手動測量并記錄該值。 由于測量大型工件(例如飛機機體)的厚度需要幾個小時,因此自動測量飛機上工件厚度的探測系統(tǒng)可以大大提高生產(chǎn)率。
日本nanogray β射線測厚儀SB-1100系列 通常,為了測量片材的寬度方向上的厚度分布,檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶并進行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段,但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上,則其傳送的精度遠遠低于激光位移計的精度,從而導致結(jié)果。高精度測量是困難的。